| |
Локазюк, В. М.
Проблеми та методологія контролю і діагностування сучасних мікропроцесорних пристроїв та систем [Текст] / В. М. Локазюк
// Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах. – 2000. – № 2. – 10-17.
Запропоновані нові підходи до контролю і діагностування МПП і С, котрі дозволяють значно підвищити ефективність тестування |
