|
| | |
Применение методов атомно-эмиссионной и атомно-абсорбционной спектроскопии для анализа полупроводниковых материалов [Текст] / И. С. Аверьянов, Л. С. Захаров, А. С. Макаров, А. Ф. Белозеров
// Оптический журнал. – 2000. – № 12. – 71-75.
|
| | УДК 543.421+543.423.1:621.315.592 |
| |
|
