| |
Исследование структурных дефектов в объемных кристаллах карбида кремния [Текст] / С. Ф. Авраменко, М. Я. Валах, В. С. Киелев, М. Я. Скороход
// Металлофизика и новейшие технологии. – 2000. – 22, № 3. – 33-39.
С помощью проекционной рентгеновской топографии и оптической микроскопии на прохождение и отражение исследовались структурные дефекты в объемных кристаллах (булях) SiC, полученных модифицированным сублимационным методом Лели. |
