| |
Гонсьор, О. Metrological risks of industrial IoT systems: classification, assessment, and risk mitigation strategies = Метрологічні ризики в промислових системах ІоТ: класифікація, оцінювання та стратегії мінімізації [Текст] / О. Гонсьор, М. Микийчук // Український метрологічний журнал. – 2025. – № 4. – С. 59-65. – DOI: https://doi.org/10.24027/2306-7039.4.2025.348020.
Показано, що перехід від централізованих вимірювальних систем до розподілених архітектур ІІоТ підвищує кількість джерел невизначеності та створює нові типи метрологічних ризиків, пов’язаних з деградацією сенсорів, втратою калібрувальної простежуваності, впливом умов середовища, нестабільністю каналів зв’язку та маніпуляцією даними на рівні мережевих протоколів. |