| |
Особливості виявлення еталонного зображення на напівтоновому зображенні за методом бінарних зрізів [Текст] / Я. Г. Скорюкова, Т. Б. Мартинюк, С. М. Марков, В. М. Кокушкін
// Оптико-електронні інформаційно-енергетичні технології. – 2024. – № 1 (47). – С. 78-87. – DOI: https://doi.org/10.31649/2413-4503-2024-17-1-78-87.
Запропонований підхід до виявлення еталонного напівтонового зображення на поточному напівтоновому зображенні. Для цього розгляну-то особливості застосування методу бінарних зрізів для передоброблення напівтонового зображення у поєднанні з методами, що дозволяють виявити еталонне бінарне зображення на поточному бінарному зображенні. Практична цінність запропонованого підходу полягає в тому, що складноструктуроване напівтонове зображення з великою кількістю рівнів яскравості можна привести до простих бінарних матриць, більша частина з яких просто виключається з процесу оброблення. При цьому залишається вибір варіанта методу визначення бінарного зрізу еталону на полі бінарного зрізу поточного зображення. |
