Проаналізовано вплив концетрації міді. Приготовлений матеріал охарактеризовано за допомогою рентгенівської дифракції, романівської спектроскопії, дифракції виділеної області та трансмісійної електронної мікроскопії. Рентгенограми підтвердили наявність фази CuSbS_2 у більшості зразків. Деякі зразки демонструють залежні від температури фази CuSbS_2, такі як Sb_2S_3 і Cu_12Sb_4S_13. Результати комбінаційного розсіювання та дифракції вибраної області (SAED) також відповідали результатам XRD. Трансмісійна електронна мікроскопія показує формування нанорозмірної структури матеріалу.