| |
Дослідження і оптимізація вихрострумового вимірювача товщини діелектричних покриттів на металевих поверхнях виробів [Текст] / М. Д. Кошовий, О. В. Заболотний, М. В. Цеховський [та ін.]
// Український метрологічний журнал. – 2020. – № 2. – С. 33-39.
У результаті дослідження отримано математичну модель, яка характеризує залежність невизначеності вимірювання від таких чинників, як діаметр і висота осердя, кількість витків, частота напруги живлення. Отримано раціональні значення конструктивних параметрів вихрострумового вимірювача та розроблено дослідний зразок. |
