| |
СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора нового поколения с расширенным полем анализа для масс-спектрометрии [Текст] / В. П. Сидоренко, А. И. Радкевич, Ю. В. Прокофьев [и др.]
// Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 2018. – № 1. – С. 13-20.
Разработана специализированная СБИС для микроэлектронных координатно-чувствительных детекторов нового поколения - многокристальных детекторов с расширенным полем анализа, которые могут использоваться в масс-спектрометрах и обеспечивать одновременное определение элементов, входящих в состав вещества с высокой чувствительностью и точностью. |
