| |
Технические средства проведения лазерных испытаний полупроводниковых элементов на стойкость к воздействию тяжелых заряженных частиц [Текст] / О. Б. Маврицкий, А. И. Чумаков, А. Н. Егоров [и др.]
// Приборы и техника эксперимента. – 2016. – № 5. – С. 5-29.
Представлен обзор технических средств, используемых в настоящее время для лазерных испытаний изделий микроэлектроники на стойкость к воздействию тяжелых заряженных частиц по локальным радиационным эффектам. Проведена краткая классификация ионизационных эффектов, возникающих в полупроводниках при пролете отдельных тяжелых заряженных частиц. |
