|
Структура тонких плівок p-Bi_2Te_3, отриманих термічним випаровуванням у вакуумі із одного джерела [Текст] / О. І. Рогачова, О. В. Будник, О. Г. Федоров [та ін.] // Термоелектрика. – 2015. – № 2. – С. 5-15.
Досліджено механізм вирощування, мікроструктура й кристалічна структура тонких плівок Bi_2Te_3 із товщинами d=28-620 нм, отриманих термічним випаровуванням у вакуумі кристалів Bi_2Te_3 стехіометричної сполуки на скляні підкладки, використовуючи методи рентгенівської дифрактометрії, скануючої електронної мікроскопії, енергодисперсійної спектрометрії й атомної силової мікроскопії. |