Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету

ПРАВИЛА КОРИСТУВАННЯ ЕК
          Крекотень, Ф.
    Доступно о сложном: электрическое тестирование интегральных микросхем [Текст] / Ф. Крекотень
    // Электронные компоненты. – 2016. – № 6. – С. 28-30.

   Технические характеристики тестера интегральных микросхем.

  


            


Є складовою частиною документа Электронные компоненты [Текст]. – 2016. – № 6.



Теми документа






Український Фондовий Дім Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'