| |
Измерения электрофизических характеристик полупроводниковых структур с использованием СВЧ фотонных кристаллов [Текст] / Д. А. Усанов, С. А. Никитов, А. В. Скрипаль [и др.]
// Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2016. – № 2. – С. 187-194.
Предложен метод измерений электрофизических характеристик полупроводниковых структур. |
