| |
Ожегин, Ю. А.
Методика анализа эквивалентности рентгенограмм микросхем для задач оценки радиационной стойкости [Текст] / Ю. А. Ожегин
// Микроэлектроника. – 2014. – Т. 43, № 4. – С. 315-320.
Предложена методика обработки рентгеновских изображений микросхем, позволяющая производить количественное сравнение изображения на этапе входного контроля в целях идентификации и выявления несоответствующей продукции. |
