| |
Корреляция ионизационной реакции в чувствительных точках и параметров чувствительности к воздействию тяжелых заряженных частиц при лазерном тестировании интегральных схем [Текст] / А. В. Гордиенко, О. Б. Маврицкий, А. Н. Егоров [и др.]
// Квантовая электроника. – 2014. – Т. 44, № 12. – С. 1173-1178.
На основе выборок из больших партий образцов интегральных схем двух типов набрана статистика поведения ионизационной реакции в отдельных точках чувствительных областей и в их ближайших окрестностях при их облучении сфокусированным излучением фемтосекундного лазера. |
