| |
Джун, Б.
Исправленные проекты стандартов IEEE для тестирования плат и систем [Текст] / Б. Джун
// Электронные компоненты. – 2015. – № 5. – С. 22-25.
Эта статья описывает изменения в следующих стандартах: IEEE 1149.1-2013, редакция стандарта IEEE 1149.6-2003, IEEE Р1149.10, IEEE Р1838. |
