| |
Альфа-спектрометрия и фрактальный анализ микроизображений поверхности для характеризации пористых материалов, применяемых при изготовлении мишеней для экспериментов с лазерной плазмой [Текст] / А. А. Аушев, С. П. Баринов, М. Г. Васин [и др.]
// Квантовая электроника. – 2015. – Т. 45, № 6. – С. 533-539.
Приведены результаты применения метода альфа-спектрометрии для определения характеристик пористых сред, используемых в мишенях для экспериментов с лазерной плазмой. |
