| |
Барбашов, В. М.
Функционально-логическое моделирование деградации цифровых БИС при воздействии радиации [Текст] / В. М. Барбашов
// Микроэлектроника. – 2015. – Т. 44, № 1. – С. 59-64.
Рассмотрены методы моделирования радиационной надежности функционирования цифровых БИС, основанные на нечетком цифровом автомате Брауэра и топологических вероятностных моделях оценки работоспособности. |
