ERROR
Предложен подход к оценке параметров чувствительности - сечений одиночных радиационных эффектов в функции линейных потерь при использовании модели собирания заряда точечной чувствительной областью. Предложен подход по оценке чувствительности интегральных схем к эффектам многократных одиночных сбоев.
Додати до списку
Є складовою частиною документа Микроэлектроника [Текст] / РАН. – 2015. – Т. 44, № 1.
Теми документа