Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету

ПРАВИЛА КОРИСТУВАННЯ ЕК
Пошук Відібрані Формуляр Опис документа
Сайт бібліотеки Сайт ВНТУ
          Методика определения электромиграционной надежности металлических проводников интегральных схем [Текст] / С. О. Сафанов, В. П. Беспалов, М. Г. Путря, С. В. Фоминых
    // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2014. – № 5. – С. 39-44.

  УДК 620.1.08


            

Є складовою частиною документа Известия высших учебных заведений. Электроника [Текст] : научно-технический журнал. – 2014. – № 5.



Теми документа
Український Фондовий Дім Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'