|
| | |
Анализ многослойных тонкопленочных структур методом электронной оже-спектроскопии в условиях перекрывания оже-пиков элементов [Текст] / В. Г. Бешенков, А. Ф. Вяткин, В. В. Амеличев, Д. В. Костюк
// Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2013. – № 4. – С. 89-92.
|
| |
|
