| |
Диагностика гамма-облученных структур Si-SiO_2 методом катодолюминесценции [Текст] / А. П. Барабан, В. А. Дмитриев, Ю. В. Петров, К. А. Тимофеева
// Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2013. – № 2. – С. 71-76.
Рассмотрены особенности использования метода катодолюминесценции для диагностики структур Si-SiO_2, связанные с возможностью формирования центров люминесценции непосредственно в процессе регистрации спектра КЛ. |
