| |
Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром [Текст] / А. С. Турцевич, И. И. Рубцевич, Я. А. Соловьев [и др.]
// Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 2012. – № 5. – С. 44-47.
Исследованы дифференциальные профили распределения теплового сопротиввления "переход-корпус" транзисторов КП723Г в зависимости от условий монтажа кристаллов в корпус. |
