| |
Повышение надежности диодов Шоттки при воздействии разрядов статического электричества [Текст] / В. А. Солодуха, А. С. Турцевич, Я. А. Соловьёв, И. И. Рубцевич
// Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 2012. – № 5. – С. 22-26.
Исследования диодов Шоттки показали, что устойчивость структур к разрядам статического электричества зависит от параметров конструкции, а также от глубины охранного кольца. |
