|
| | |
Выявление многократных сбоев в микросхемах СОЗУ от воздействия отдельных заряженных частиц космического пространства [Текст] / А. Б. Боруздина, А. И. Чумаков, А. В. Уланова [и др.]
// Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2012. – № 5. – С. 44-48.
|
| |
|
