| |
Максимов, К. С.
Двумерные дефекты и проблема идентификации структуры наноразмерных частиц [Текст] / К. С. Максимов
// Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2011. – № 2. – С. 51-59.
Показано, что двойники и антифазные границы могут сосуществовать в наноразмерных объектах. |
