| |
Методы исследования температурных зависимостей диэлектрических параметров сегнетоэлектриков [Текст] / Е. А. Печерская, В. А. Соловьев, А. М. Метальников, А. В. Бобошко
// Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2012. – № 2. – С. 77-81.
Предложен автоматизированный метод эмпирико-теоретического моделирования температурных зависимостей диэлектрических параметров сегнетоэлектриков, основанный на законе Кюри-Вейса. |
