| |
Определение размеров дефектов вакансионного типа в ангстремных диапазонах методами позитронной аннигиляционной спектроскопии [Текст] / В. И. Графутин, И. Н. Мешков, Е. П. Прокопьев [и др.]
// Микроэлектроника. – 2011. – Т. 40, № 6. – С. 468-475.
Предложена методика определения методом позитронной аннигиляционной спектроскопии (ПАС) размера вакансий и пор в металлах в ангстремном и нанометровом диапазонах. |
