| |
Согоян, А. В.
Оценка стойкости КМОП СБИС к фактору поглощенной дозы при воздействии импульсного излучения [Текст] / А. В. Согоян
// Микроэлектроника. – 2011. – Т. 40, № 3. – С. 200-208.
Предложен и обоснован метод испытаний КМОП СБИС СБИС на стойкость к фактору поглощенной дозы при воздествии импульсного ионизирующего излучения. |
