| |
Метод и аппаратура электронной микротомографии в сканирующей электронной микроскопии [Текст] / А. В. Гостев, С. А. Дицман, Ф. А. Лукьянов [и др.]
// Приборы и техника эксперимента. – 2010. – № 4. – С. 124-134.
Описан метод микротомографии слоистых микроструктур при детектировании обратнорассеяных электронов в растровом электронном микроскопе. |
