| |
Дифракційна характеризація мікродефектної структури ізохронно відпалених кристалів кремнію [Текст] / В. Б. Молодкін, В. П. Кладько, С. Й. Оліховський [и др.]
// Металлофизика и новейшие технологии. – 2009. – Т. 31, № 9. – С. 1205-1222.
Шляхом аналізу кривих дифракційного відбиття виконано кількісну характеризацію складних мікродефектних структур у кристалах кремнію, відпалених при різних температурах протягом 50 год. |
