|
Монитор контроля плотности потока тяжелых ионов при облучении пленочных полимерных материалов, основанный на регистрации протонов отдачи [Текст] / Ю. Г. Тетерев, Б. Н. Гикал, О. М. Иванов [и др.] // Приборы и техника эксперимента. – 2009. – № 2. – С. 9-13.
Описан монитор контроля плотности потока ускоренных частиц при облучении пленочных полимерных материалов тяжелыми ионами с низкой плотностью треков, основанный на регистрации протонов отдачи. |