Систематизированы методы анализа химического состава, атомной и электронной структуры поверхности материалов, основанные на эмиссионных явлениях, которые возникают в процессе нагрева, приложения электрического или магнитного поля, а также при взаимодействии различного рода частиц (электронов, ионов, позитронов и др.) и электромагнитного излучения с поверхностью. Приведены схемы приборов, с помощью которых реалзуются методы.