| Р 39 |
Гольцев, В. П.
Рентгеноспектральный и электронно-микроскопический методы исследования структуры и свойств материалов [Текст] / В. П. Гольцев, Т. Т. Дедегкаев, А. М. Дергай ; Под ред. В.Б. Нестеренко. – Минск : Наука и техника, 1980. – 191 с. – 1450.
Изложены физические основы рентгеноспектрального микроанализа и прикладной электронной микроскопии. |
