| Д 18 |
Данилин, Н. С.
Диагностика и контроль качества изделий цифровой микроэлектроники [Текст] / Н. С. Данилин, Ю. Л. Нуров. – М. : Изд-во стандартов, 1990. – 176с. – Библиогр.: с.173. – 2000.
Рассматриваются новые виды и методы контроля изделий микроэлектроники: автоматизированный активный контроль, отбарковочные испытания, а также методы тестирования и диагностики. Для специалистов, занятых конструированием, производством и эксплуатацией изделий микроэлектроники, работников ОТК, служб надежности. |
