Метою дослідження є підвищення ефективності методу покомпонентного діагностування цифрових пристроїв (ЦП) за рахунок застосування композиційно-декомпозиційних способів представлення їх вихідних структур.Такий підхід сприяє скороченню часу підготовки і реалізації програм тестування ЦП,підвищенню їх достовірності, що досягається створенням апаратними засобами спеціальних електричних умов здійснення діагностічних експериментів на рівні структур розбиття.