| Л45 |
Лонский, И. И.
Разработка методов и устройств автоматизированного оптического контроля качества полупроводниковых планарных структур [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : защищена 21.01.1984 / Иван Иванович Лонский ; ВПИ. – Винница, 1983. – 24 с. : ил. – Библиогр.: с.23-24.
Цель работы - решение проблемы автоматизации обработки визуализированной информации для контроля качества ППС. |
