С60 |
Соловьев, И. И. Методы контроля параметров и технической диагностики МДП приборов и интегральных схем [Текст] : дис. ... канд. техн. наук : 05.11.13 : защищена 29.05.92 / Иван Иванович Соловьев ; ВПИ. – Винница, 1991. – 176 с. – Библиогр.: с.138-149.
Разработаны методы контроля параметров и технической диагностики одного из классов полупроводниковых приборов- МДП приборов и МДП ИМС, обеспечивающих заданный и повышение существующего уровня надежности. |