| |
Влияние металла на поверхностные электронные состояния кремния в слоистой системе Me-Ga2Se3-(SiOx)Si [Текст] / Н. Н. Безрядин, В. В. Асессоров, С. В. Сизов [et al.]
// Изв.ВУЗов.Электроника. – 2006. – № 2. – 18-25.
Методом высокочастотных вольт-фарадных характеристик исследованы полевые гетероструктуры Me-Ga2Se3-(SiOx)Si c металлическими контактами из Al, Ni, Mg и Pt |
