| |
Методика и результаты экспериментальных исследований сбоеустойчивости КМОП КНС оперативных запоминающих устройств при импульсном ионизирующем воздействии [Текст] / А. В. Киргизова, А. В. Яненко, А. Ю. Никифоров, Н. Г. Григорьев
// Изв.ВУЗов.Электроника. – 2005. – № 3. – 29-32.
Представлены экспериментальные исследования зависимости уровня сохранности информации КМОП КНС БИС статических ОЗУ при воздействии импульсного лазерного излучения в зависимости от кода хранимой информации и напряжения питания |
