| |
Чивель, Ю. А.
Система мониторинга процесса селективного лазерного спекания [Текст] / Ю. А. Чивель, Д. А. Затягин, И. Ю. Смуров
// Изв.ВУЗов.Приборостроение. – 2008. – 51, № 4. – 70-73.
Для контроля параметров технологического процесса селективного лазерного спекания и визуализации области обработки разработана и создана система оптического мониторинга |
