| |
Білинський, Й. Й.
Субпікселне сканування елементів зображення на основі зсуву фотоматриці [Текст] / Й. Й. Білинський, О. Г. Тарасюк, В. Й. Білинський
// Вісник ВПІ. – 2007. – № 6. – С. 8-10.
Запропоновано метод визначення максимуму розподілення яскравості світлової плями із субпікселною точністю на основі зсуву багатоелементного фотоприймального пристрою. Проведено експериментальні дослідження, що підтверджують ефективність методу, а також дана порівняльна характеристика запропонованого та існуючого методів. |
