| |
Радиоволновые и оптические измерения толщины и электропроводности металлических пленок на полупроводниковых и диэлектрических подложках [Текст] / Ю. А. Чаплыгин, Д. А. Усанов, Ал.В. Скрипаль [et al.]
// Изв.ВУЗов.Электроника. – 2005. – № 1. – 68-77.
Обобщены ранее проведенные теоретические и экспериментальные исследования особенностей взаимодействия излучения микроволнового и оптического диапазонов с металлополупроводниковыми и металлодиэлектрическими структурами |
