Електронний каталог науково-технічної бібліотеки Вінницького національного технічного університету
кантилевер
Підтеми:
Документи:
- Алексейчук, А. В. Особенности технологии изготовления кантилеверов [Текст] / А. В. Алексейчук, Л. П. Батюня, А. А. Раскин // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2006. – № 1. – 92-93.
- Особенности проведения измерений в сканирующей электропроводящей микроскопии [Текст] / А. Н. Белов, С. А. Гаврилов, М. Ю. Назаркин [и др.] // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2011. – № 3. – С 75-81.
- Казанцев, Д. В. Четырехсегментный фотодиодный датчик изгиба кантилевера атомно-силового микроскопа [Текст] / Д. В. Казанцев, Е. А. Казанцева // Приборы и техника эксперимента. – 2014. – № 5. – С. 120-128.
- Поляков, В. В. Оптимизация угловой апертуры лазерной системы датчика изгибов кантилевера атомно-силового микрокопа [Текст] / В. В. Поляков // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2009. – № 4. – С. 87-89.
- Рощин, В. М. Сверхтонкие проводящие пленки состава WxC для кремниевых кантилеверов сканирующей зондовой микроскопии [Текст] / В. М. Рощин // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2003. – № 3. – 44-49.
- Тихомиров, А. А. Методика проведения измерений в полуконтактной моде атомно-силовой микроскопии [Текст] / А. А. Тихомиров, С. Ю. Краснобородько, В. И. Шевяков // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2013. – № 4. – С. 94-95.
|