Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету
Класифікатори
товщина
товщина розплавленого шару
Документи:
Simulation of the depth of the melted layer on the surface of a semiconductor using Java cross-platform application [Текст] / O. V. Galochkin, D. I. Uhryn, E. V. Vatamanitsa, I. V. Vsoltys // Оптико-електронні інформаційно-енергетичні технології. – 2022. – № 1 (43). – P. 76-81. – DOI: https://doi.org/10.31649/1681-7893-2022-43-1-76-81.
Simulation of the depth of the melted layer on the surface of a semiconductor using Java cross-platform application [Електронний ресурс] / O. V. Galochkin, D. I. Uhryn, E. V. Vatamanitsa, I. V. Vsoltys // Оптико-електронні інформаційно-енергетичні технології. – 2022. – № 1. – P. 76-81. – DOI: https://doi.org/10.31649/1681-7893-2022-43-1-76-81.
Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'