Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету
Класифікатори
Е
електроміграція
Документи:
Posser, G.
Electromigration Inside Logic Cells [Електронний ресурс] : Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS / G. Posser, S. S. Sapatnekar, R. Reis. – Electronic text data. – Cham : Springer, 2017. – ISBN 978-3-319-48899-8.
Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'