Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету
Класифікатори
надійність, надежность
надежность радиационная
Документи:
Барбашов, В. М.
Функционально-логическое моделирование деградации цифровых БИС при воздействии радиации [Текст] / В. М. Барбашов // Микроэлектроника. – 2015. – Т. 44, № 1. – С. 59-64.
Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'