Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету
ТЗЧ (частица заряженая тяжелая)
Документи:
- Оптимизация режимов ретроградного легирования кармана КНИ МОП-транзисторов СБИС [Текст] / А. В. Амирханов, С. И. Волков, А. А. Глушко, Л. А. Зинченко // Микроэлектроника. – 2016. – Т. 45, № 4. – С. 252-257.
- Боруздина, А. Б. Влияние топологического размещения ячеек в микросхемах памяти на кратность сбоев от ТЗЧ [Текст] / А. Б. Боруздина, Н. Г. Григорьев, А. В. Уланова // Микроэлектроника. – 2014. – Т. 43, № 2. – С. 88-93.
- Методика регистрации многократных сбоев в микросхемах памяти большой емкости при воздействии отдельных ядерных частиц [Текст] / А. Б. Боруздина, А. В. Уланова, А. И. Чумаков, А. В. Яненко // Микроэлектроника. – 2016. – Т. 45, № 4. – С. 313-318.
- Глушко, А. А. Моделирование воздействия тяжелых заряженных частиц на характеристики полевых транзисторов структуры "кремний на изоляторе" [Текст] / А. А. Глушко, Л. А. Зинченко, В. А. Шахнов // Радиотехника и электроника. – 2015. – Т. 60, № 10. – С. 1090-1096.
- Еремеев, П. М. Использование кода Хэмминга для исправления двойных сбоев в смежных разрядах памяти в аппаратуре космического назначения [Текст] / П. М. Еремеев // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2015. – Т. 20, № 3. – С. 321-322.
- Влияние электрического режима на показатели стойкости импульсных стабилизаторов к одиночным сбоям от ТЗЧ [Текст] / Л. Н. Кессаринский, А. Я. Борисов, Д. В. Бойченко, А. О. Ахметов // Микроэлектроника. – 2015. – Т. 44, № 1. – С. 54-58.
- Кушин, В. В. Исследование чувствительности трекового детектора CR-39 к тяжелым заряженным частицам космического излучения [Текст] / В. В. Кушин, К. О. Иноземцев // Приборы и техника эксперимента. – 2015. – № 6. – С. 91-96.
- Согоян, А. В. Модель формирования токов утечки диэлектриков МОП-структур при воздействии ТЗЧ [Текст] / А. В. Согоян, В. А. Полунин // Микроэлектроника. – 2015. – Т. 44, № 1. – С. 65-70.
- Чумаков, А. И. Оценка многократных сбоев в интегральных схемах от воздействия тяжелых заряженных частиц [Текст] / А. И. Чумаков // Микроэлектроника. – 2014. – Т. 43, № 2. – С. 83-87.
|
