Електронний каталог науково-технічної бібліотеки Вінницького національного технічного університету
сбоеустойчивость
Документи:
- Бетелин, В. Б. Контролируемое выполнение с явной моделью [Текст] / В. Б. Бетелин, В. А. Галатенко, К. А. Костюхин // Программирование. – 2014. – № 5. – С. 45-55.
- Боруздина, А. Б. Влияние топологического размещения ячеек в микросхемах памяти на кратность сбоев от ТЗЧ [Текст] / А. Б. Боруздина, Н. Г. Григорьев, А. В. Уланова // Микроэлектроника. – 2014. – Т. 43, № 2. – С. 88-93.
- Катунин, Ю. В. Помехоустойчивое кодирование на двухфазных 28 нм КМОП-логических элементах [Текст] / Ю. В. Катунин, К. Э. Левин // Микроэлектроника. – 2015. – Т. 44, № 4. – С. 299-305.
- Катунин, Ю. В. Моделирование характеристик триггерных элементов КМОП двухфазной логики с учетом разделения заряда при воздействии отдельных ядерных частиц [Текст] / Ю. В. Катунин, В. Я. Стенин, П. В. Степанов // Микроэлектроника. – 2014. – Т. 43, № 2. – С. 104-117.
- Методика и результаты экспериментальных исследований сбоеустойчивости КМОП КНС оперативных запоминающих устройств при импульсном ионизирующем воздействии [Текст] / А. В. Киргизова, А. В. Яненко, А. Ю. Никифоров, Н. Г. Григорьев // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2005. – № 3. – 29-32.
- Ольчев, С. И. Двухфазные КМОП логические элементы с повышенной сбоеустойчивостью к воздействию отдельных ядерных частиц [Текст] / С. И. Ольчев, В. Я. Стенин // Микроэлектроника. – 2011. – Т. 40, № 3. – С. 170-183.
- Стенин, В. Я. Моделирование пороговых параметров, органичивающих сбоеустойчивость 45-и 65-нм двухфазных КМОП-инверторов при воздействии отдельных ядерных частиц [Текст] / В. Я. Стенин // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2012. – № 5. – С. 49-54.
- Стенин, В. Я. Ограничения и перспективы использования двухфазной КМОП-логики в сбоеустойчивых суб-100-нм СБИС [Текст] / В. Я. Стенин // Микроэлектроника. – 2014. – Т. 43, № 2. – С. 94-103.
|