Електронний каталог науково-технічної бібліотеки Вінницького національного технічного університету
рекомбинация
Підтеми:
Документи:
- Механизм деактивации синглетного кислорода в электроразрадном кислородно-иодном лазере [Текст] / В. Н. Азязов, П. А. Михеев, А. П. Першин [и др.] // Квантовая электроника. – 2014. – Т. 44, № 12. – С. 1083-1084.
- Булярский, С. В. Рекомбинационная спектроскопия глубоких центров в рентгеночувствительных p-i-n-приемниках [Текст] / С. В. Булярский, А. С. Басаев // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2003. – № 3. – 3-10.
- Власенко, А. И. Квантовый выход межзонной излучательной рекомбинации в кристалах CdHgTe [Текст] / А. И. Власенко, З. К. Власенко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 2004. – № 6. – 7-10.
- Джакели, В. Г. Примесный пробой в условиях межзонной подсветки [Текст] / В. Г. Джакели, З. С. Качлишвили, Н. Ю. Матешвили // Изв.ВУЗов.Физика. – 2000. – № 1. – 58-61.
- Комбинационные механизмы ионизации и рекомбинации и генерационно-рекомбинационные процессы в полупроводниках [Текст] / В. Г. Джакели, З. С. Качлишвили, М. Г. Хазанишвили, Э. Г. Хазанишвили // Изв.ВУЗов.Физика. – 2002. – № 5. – 62-69.
- Дубровка, Ф. Ф. Конструктивный синтез планарных антен с помощю природных алгоритмов оптимизации [Текст] / Ф. Ф. Дубровка, Д. О. Василенко // Известия вузов. Радиоэлектроника. – 2009. – № 3-4. – С. 3-22.
- Жавжаров, Е. Л. Формирование нанопленок Cu, Ag, Au под воздействием атомов водорода [Текст] / Е. Л. Жавжаров, В. М. Матюшин // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 2015. – № 5-6. – С. 41-44.
- Козлов, А. В. Влияние скорости поверхностной рекомбинации на относительную чувствительность биполярного магнитотранзистора [Текст] / А. В. Козлов, Ю. А. Парменов // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2006. – № 3. – С. 27-31.
- Туннельное приближение для оценки амплитуды генерации высших гармоник в интенсивных лазерных полях: анализ времен ионизации и рекомбинации [Текст] / А. А. Минина, М. В. Фролов, А. Н. Желтухин, Н. В. Введенский // Квантовая электроника. – 2017. – Т. 47, № 3. – С. 216-221.
- Павлюк, С. П. Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов [Текст] / С. П. Павлюк, Л. В. Ищук, В. М. Кислицын // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 2004. – № 3. – 62-64.
- Полунин, В. А. Моделирование процесса рекомбинации в SiO-2 при воздействии ионизирующего излучения методом Монте -Карло [Текст] / В. А. Полунин, А. В. Согоян // Микроэлектроника. – 2011. – Т. 40, № 3. – С. 191-199.
|