Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету
Класифікатори
Э
электромиграция
Документи:
Емельянов, А. В.
Влияние режимов формирования барьерного слоя на надежность систем металлизации ИС [Текст] / А. В. Емельянов, В. А. Емельянов, С. Ф. Сенько // Микроэлектроника. – 2011. – Т. 40, № 5. – С. 344-350.
Методика определения электромиграционной надежности металлических проводников интегральных схем [Текст] / С. О. Сафанов, В. П. Беспалов, М. Г. Путря, С. В. Фоминых // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2014. – № 5. – С. 39-44.
Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'
